【摘要】本實用新型是關于光電器件，特別是光電耦合器 的改進。它由同發(fā)光元件和受光元件封裝在同一殼 體內(nèi)的擋光體或反光體的位移來調節(jié)其傳輸比。擋 光體或反光體同一根伸到殼體之外的軸相連，轉動該 軸即可調節(jié)其傳輸比。用于替代電位器，由于調節(jié)是
【摘要】 一種用于內(nèi)尺寸測量的多值標準環(huán)規(guī)，它是在一 塊基體(金屬或玻璃)上，有一組特定的孔系，孔系中 每兩個孔的孔壁反向對應點之間的距離為實測的標 準尺寸，從而一組孔系組成多個標準尺寸。多值標準 環(huán)規(guī)可作為測長機、測長儀、臥式光學計等長度計量 儀器內(nèi)尺寸測量的標準器，與現(xiàn)有標準環(huán)規(guī)比較，具 有多值、體積小，重量輕，制作容易、精度高、Φ值大等 優(yōu)點。 【專利類型】實用新型 【申請人】中國科學院西安光學精密機械研究所 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】710068陜西省西安市友誼西路234號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】西安市 【申請人區(qū)縣】碑林區(qū) 【申請?zhí)枴緾N90225673.4 【申請日】1990-12-04 【申請年份】1990 【公開公告號】CN2087768U 【公開公告日】1991-10-30 【公開公告年份】1991 【授權公告號】CN2087768U 【授權公告日】1991-10-30 【授權公告年份】1991.0 【IPC分類號】G01B3/34 【發(fā)明人】劉亞南 【主權項內(nèi)容】1、一種用于內(nèi)孔徑測量的標準環(huán)規(guī)，是由基體及其上的孔組成，本實用新型的特征在于：在一塊基體上有一組特定的孔系，孔系中每兩個孔的孔壁反向對應點之間的距離經(jīng)過精密檢測，成為實測標準尺寸，一組特定的孔系組成了多個標準尺寸，從而使其構成了多值標準環(huán)規(guī)。 【當前權利人】中國科學院西安光學精密機械研究所 【當前專利權人地址】陜西省西安市友誼西路234號 【統(tǒng)一社會信用代碼】12100000437201489M
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