【摘要】本發(fā)明涉及一種外差干涉儀的信號處理新方法, 即相位和相位整數(shù)測量法。本發(fā)明采用了相位測量 技術(shù)和超過2π相位變化的相位整數(shù)測量技術(shù)。包 括數(shù)字相位調(diào)制方法,即將兩路頻率信號的相位轉(zhuǎn)換 成為一個調(diào)寬信號,還包括超過2π相位變化的相位
【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】福克電子股份有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】臺灣省 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請?zhí)枴緾N91300028.0 【申請日】1991-01-02 【申請年份】1991 【公開公告號】CN3010069S 【公開公告日】1991-07-10 【公開公告年份】1991 【授權(quán)公告號】CN3010069S 【授權(quán)公告日】1991-07-10 【授權(quán)公告年份】1991.0 【發(fā)明人】陳文政 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】??穗娮庸煞萦邢薰?【當(dāng)前專利權(quán)人地址】臺灣省
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