【摘要】本實用新型公開了一種漏電檢測電路,它由可控硅、二極管整流橋、內(nèi)置有脫扣鐵芯的線圈、電阻和電容組成??煽毓璧目刂茦O通過電阻與電源線的金屬屏蔽層相連;可控硅的陽極與整流橋的直流電壓輸出端正極相連;可控硅的陰極與整流橋的直流電壓輸出端負極
【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】湯兆基 【申請人類型】個人 【申請人地址】200041上海市靜安區(qū)北京西路605弄8號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區(qū)縣】靜安區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630036643.8 【申請日】2006-05-25 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3630837D 【公開公告日】2007-04-11 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN3630837D 【授權(quán)公告日】2007-04-11 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】湯兆基 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】湯兆基 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市靜安區(qū)北京西路605弄8號
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