【摘要】自組裝砼制造測試屬鮮砼與生產(chǎn)檢驗設(shè)備產(chǎn)品和制造測試優(yōu)化等方法。p次低成本試驗用HR與HB構(gòu)H*設(shè)計p位級的復(fù)合因素或混合位級;用U型儀對工程或試配的鮮砼作多參數(shù)協(xié)同控測得高同一信息,優(yōu)化配方設(shè)備工藝參數(shù)。礦巖或廢砼用AI機(jī)電儀測控一
【摘要】 后視圖與主視圖對稱,省略后視圖。 【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】上海外國語大學(xué)附屬大境中學(xué) 【申請人類型】學(xué)校 【申請人地址】200011上海市黃浦區(qū)保屯路210號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區(qū)縣】黃浦區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630034801.6 【申請日】2006-03-28 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3614517D 【公開公告日】2007-02-28 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN3614517D 【授權(quán)公告日】2007-02-28 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】史正華 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】上海外國語大學(xué)附屬大境中學(xué) 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市黃浦區(qū)保屯路210號 【統(tǒng)一社會信用代碼】1231010142502733X5
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