【摘要】本實(shí)用新型揭示了一種用于液壓制動(dòng)機(jī)構(gòu)的真空助力剎車系統(tǒng)，連接于液壓制動(dòng)機(jī)構(gòu)的腳踏板和制動(dòng)總泵之間，包括：真空產(chǎn)生裝置，真空腔，連接于真空產(chǎn)生裝置，由真空產(chǎn)生裝置在真空腔內(nèi)制造真空；大氣腔，通過一隔離機(jī)構(gòu)臨接于真空腔，隔離機(jī)構(gòu)可隨真空
【摘要】 本發(fā)明公開了一種模擬空間環(huán)境工作的激光誘 導(dǎo)離解光譜探測系統(tǒng)，及可避免由于線列CCD光柵光譜儀存 在“波長準(zhǔn)確度”問題的探測方法。本發(fā)明的激光誘導(dǎo)離解光 譜探測系統(tǒng)包括：脈沖激光器、會(huì)聚光學(xué)透鏡、光譜儀、脈沖 延遲產(chǎn)生器、計(jì)算機(jī)、樣品室。其特征在于：樣品室是一個(gè)模 擬空間氣壓條件的真空室，該系統(tǒng)可以驗(yàn)證激光誘導(dǎo)離解光譜 探測技術(shù)應(yīng)用于深空探測的可行性。本發(fā)明的探測方法是利用 系統(tǒng)本身建立標(biāo)準(zhǔn)樣品原子光譜數(shù)據(jù)庫，把系統(tǒng)獲取的未知樣 品的原子光譜數(shù)據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)樣品的原子光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行對照，從而 實(shí)現(xiàn)元素種類的識(shí)別。 這種方法避開了由于光譜儀“波長準(zhǔn)確度”問題引起的元素識(shí) 別誤差，原則上使得元素識(shí)別誤差變?yōu)榱恪? 【專利類型】發(fā)明申請 【申請人】中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】200083上海市玉田路500號(hào) 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區(qū)縣】虹口區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200610030143.2 【申請日】2006-08-17 【申請年份】2006 【公開公告號(hào)】CN1908626A 【公開公告日】2007-02-07 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN1908626B 【授權(quán)公告日】2010-05-12 【授權(quán)公告年份】2010.0 【IPC分類號(hào)】G01N21/63 【發(fā)明人】舒嶸; 亓洪興; 呂剛; 馬德敏 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】1.一種模擬空間環(huán)境的激光誘導(dǎo)離解光譜探測系統(tǒng)，包括：脈沖激光器 (1)、會(huì)聚光學(xué)透鏡(2)、光譜儀(3)、脈沖延遲產(chǎn)生器(4)、計(jì)算機(jī)(5)、 樣品室(6)，其特征在于： 樣品室(6)是一個(gè)模擬空間氣壓條件的真空室，真空室由底座(601)通 過O型密封圈與筒體(602)密封連接組成； 底座上置有帶螺紋的載物臺(tái)支柱(604)，支柱上裝有通過螺紋調(diào)節(jié)高低的 載物臺(tái)(603)； 在底座上，在載物臺(tái)的旁邊，置有固定光纖探頭(7)的“T”字形支架(605)， 探頭通過螺釘(6051)固定在“T”字形支架的橫桿(6052)上，“T”字形支 架的橫桿(6052)由螺釘(6053)固定可上下調(diào)節(jié)； 筒體側(cè)壁置有可拆卸的視窗(606)和真空抽氣閥(607)； 筒體頂部置有通過O型密封圈密封的會(huì)聚透鏡(2)和光纖引出管道(608)； 與引出管道(608)依次真空密封連接有A真空快卸卡箍(8)、波紋管(9)、 B真空快卸卡箍(10)； A光纖(11)的一端連接光纖探頭(7)，另一端從真空室的引出管道(608) 穿出、依次穿過A真空快卸卡箍(8)、波紋管(9)、與真空光纖接頭(12)光 連接；真空光纖接頭(12)與B真空快卸卡箍(10)構(gòu)成真空密封連接； 激光器發(fā)出的光束經(jīng)會(huì)聚透鏡(2)聚焦在載物臺(tái)上的樣品上；激光激發(fā) 樣品產(chǎn)生的等離子譜由光纖探頭(7)，依次與光纖探頭(7)光連接的A光纖 (11)、真空光纖接頭(12)、B光纖(13)耦合到光譜儀的入射狹縫中； 激光器發(fā)光的同時(shí)，發(fā)出同步信號(hào)觸發(fā)脈沖延遲器，經(jīng)延遲后再觸發(fā)光譜 儀采集光譜，光譜儀產(chǎn)生的光譜信號(hào)經(jīng)其A/D轉(zhuǎn)換以后通過USB接口與計(jì)算 機(jī)連接； 計(jì)算機(jī)內(nèi)安裝有標(biāo)準(zhǔn)樣品測得的光譜數(shù)據(jù)和未知樣品測得的光譜數(shù)據(jù)的 采集和處理軟件。 【當(dāng)前權(quán)利人】中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市玉田路500號(hào) 【統(tǒng)一社會(huì)信用代碼】12100000425005579K 【被引證次數(shù)】11 【被他引次數(shù)】11.0 【家族引證次數(shù)】4.0 【家族被引證次數(shù)】11
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