【摘要】本發(fā)明公開了一種晶片檢測(cè)方法,包括:利用AVI工具中的光學(xué)處理單元獲取晶片光學(xué)圖像;并對(duì)晶片光學(xué)圖像進(jìn)行灰度計(jì)算及分區(qū);選定分區(qū)標(biāo)準(zhǔn)芯片;最后,將不 同分區(qū)內(nèi)的其它芯片同標(biāo)準(zhǔn)芯片進(jìn)行灰度值對(duì)比,檢測(cè)出缺陷芯片。所述分區(qū)的具體方式根據(jù)
【專利類型】外觀設(shè)計(jì) 【申請(qǐng)人】上??雕R電器有限公司 【申請(qǐng)人類型】企業(yè) 【申請(qǐng)人地址】201515上海市金山區(qū)錢圩鎮(zhèn)呂張公路1018號(hào) 【申請(qǐng)人地區(qū)】中國 【申請(qǐng)人城市】上海市 【申請(qǐng)人區(qū)縣】金山區(qū) 【申請(qǐng)?zhí)枴緾N200630034626.0 【申請(qǐng)日】2006-03-21 【申請(qǐng)年份】2006 【公開公告號(hào)】CN3618330D 【公開公告日】2007-03-07 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN3618330D 【授權(quán)公告日】2007-03-07 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】高初雷; 胡鐵峰 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】上??雕R電器有限公司 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市金山區(qū)錢圩鎮(zhèn)呂張公路1018號(hào) 【專利權(quán)人類型】有限責(zé)任公司 【統(tǒng)一社會(huì)信用代碼】91310116132153455F
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